二水平设计离散偏差和对称化L2偏差紧的下界

doi:10.3969/j.issn.1007-2985.2014.03.005

journal6 ›› 2014, Vol. 35 ›› Issue (3): 20-22.DOI: 10.3969/j.issn.1007-2985.2014.03.005

二水平设计离散偏差和对称化L₂偏差紧的下界

李洪毅，黎奇升，欧祖军

（1.吉首大学师范学院,湖南吉首 416000；2.吉首大学数学与统计学院,湖南吉首 416000)

出版日期:2014-05-25 发布日期:2014-07-05
通讯作者: 欧祖军(1979-),男,湖南宜章人,吉首大学数学与统计学院副教授，主要从事概率统计及试验设计研究;E-mail ozj9325@mail.ccnu.edu.cn.
作者简介:李洪毅(1978-),女,湖南沅陵人,吉首大学数学与统计学院硕士研究生,主要从事概率统计研究
基金资助:
国家自然科学基金项目(11201177)；湖南省教育厅科研项目(12C0287)；湖南省教育厅优秀青年项目（14B146）；吉首大学校级科研项目(13JDY041)；吉首大学学成返校博士科研项目(JSDXXCFXBSKYXM201113)

Lower Bounds to Discrete Discrepancy and Symmetric L₂ Discrepancy in Two Level Fractional Factorial Designs

LI Hong-Yi, LI Qi-Sheng, OU Zu-Jun

(1.Normal College,Jishou University,Jishou 416000,Hunan China;2.College of Mathematics and Statistics,Jishou University,Jishou 416000,Hunan China)

Online:2014-05-25 Published:2014-07-05

摘要/Abstract

摘要：基于现有的均匀性测度公式,利用Langrange乘数法和Taylor公式得到二水平设计离散偏差和对称化L₂偏差紧的下界,最后通过2个例子来验证其结论.

关键词： 均匀设计, U型设计, 离散偏差, 对称化L₂偏差, 下界

Abstract: On the basis of existing formula of uniformity measurement and using the Langrange multiplier method and the formula of Taylor,the tight lower bounds to discrete discrepancy and symmetric L₂discrepancy of two level fractional factorial designs are obtained.Finally,two examples are given to illustrate the results.

Key words: uniform design, U type design, discrete discrepancy, symmetric L₂ , discrepancy, lower bound

李洪毅, 黎奇升, 欧祖军. 二水平设计离散偏差和对称化L₂偏差紧的下界[J]. journal6, 2014, 35(3): 20-22.

LI Hong-Yi, LI Qi-Sheng, OU Zu-Jun . Lower Bounds to Discrete Discrepancy and Symmetric L₂ Discrepancy in Two Level Fractional Factorial Designs[J]. journal6, 2014, 35(3): 20-22.

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二水平设计离散偏差和对称化L₂偏差紧的下界

Lower Bounds to Discrete Discrepancy and Symmetric L₂ Discrepancy in Two Level Fractional Factorial Designs

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