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    1. Se与Te替位掺杂对WS2-MoS2纳米器件电子输运性质的影响
    林丽娥, 廖文虎
    吉首大学学报(自然科学版)    2023, 44 (1): 14-23.   DOI: 10.13438/j.cnki.jdzk.2023.01.003
    摘要314)      PDF(pc) (7067KB)(148)    收藏
    基于密度泛函理论与非平衡格林函数相结合的第一性原理计算方法,研究了Se与Te原子替位掺杂对WS2-MoS2纳米器件电子输运性质的影响.结果表明,WS2-MoS2纳米器件为间接带隙半导体,器件电流在[+0.7 V,+1.0 V]与[-1.0 V,-0.9 V]偏压范围内随着偏压的增大逐渐减小,呈现显著的负微分电阻效应;Se与Te原子对WS2-MoS2纳米器件进行替位掺杂后均呈现有趣的负微分电阻效应,器件两端电流的隧穿也显著改善;Se原子对WS2-MoS2纳米器件中S原子进行替位掺杂时,器件转化为p型半导体;Te原子对WS2-MoS2纳米器件中S原子进行替位掺杂时,器件转化为p型半导体甚至金属,且导电性能大幅提升.
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