摘要:在对纳米遂穿结(SETJ)及单电子晶体管(SET)的特性进行分析的基础上,笔者采用等效电路的方法,提出了基于压控单元的SET宏模型,仿真得到单电子晶体管的特性曲线.通过器件仿真的输出特性曲线与理想特性曲线的对比,得出曲线的走势与理想曲线基本一致,偏差不大.并且通过计算表明,数值的精度在合理范围内,验证了模型的合理性.
周少华, 熊琦, 杨红官, 戴大康, 曾健平, 曾云. 基于压控单元的单电子晶体管宏模型[J]. journal6, 2009, 30(6): 63-65.
ZHOU Shao-Hua, XIONG Qi, YANG Hong-Guan, DAI Da-Kang, ZENG Jian-Ping, ZENG Yun. Macro-Model of Single-Electron Transistor Based on Voltage-Controlled Unit[J]. journal6, 2009, 30(6): 63-65.